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品質支援・信頼性評価
“欠陥ゼロ”を目指すお客様の品質活動をサポートします
品質問題が発生した場合は、初動対応がとても重要です。流出防止のための選別検査、不具合解析での原因把握、改善対策の導入、そして効果・背反確認が必要となります。
(1)不具合解析・故障解析、(2)品質改善支援、(3)品質・信頼性評価の改善サイクルを素早く廻すことが、“欠陥ゼロ(ゼロディフェクト)”活動の基本であり、これらの機能を一箇所に集約し、お客様の品質活動を強力にサポートします。
不具合解析・故障解析支援
不具合解析・故障解析支援
不具合・故障解析は、初動の速さが重要です。初期解析は、24時間以内対応可能です。
各種解析装置を揃えておりますので、非破壊診断、SEM解析、良品解析も対応可能です。
・不具合品の基板からの取り外し
・リワーク、リボール、デキャップ
・良品解析/不具合解析
・各種半導体製品不具合解析(FFV、FFA、FA)
・非破壊解析(X-RAY3DCT、SAT-SS、RS)
・半導体部品、ユニット電気的特性評価解析
・半導体チップ解析
(OBIRCH解析によるリーク箇所等)
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X線観察画像
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SAT(超音波)観察画像
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X線、SAT装置
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OBIRCH解析
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SEM装置
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リワーク、リボール装置
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ケミカルチャンバー
品質支援・信頼性技術支援
品質・信頼性技術支援
問題が起きてからではなく、事前の“品質予防保全”が基本です。
許されない再発、品質資産の“過去トラ”を有効に利用し品質予防保全を支援します。
特性評価、評価技術サポート、品質改善支援等々、豊富な経験と長年培ってきたノウハウをご利用いただくことで手詰りの慢性品質問題の解決にお役立ていただければ幸いです。
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オープンルーム
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オープンルーム
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リフロー装置
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PCT、HAST装置
特性検査
- 半導体製品電気的特性評価
- ES/CS特性評価(デバイス)
- 特性Cp/Cpk測定
- ユニット特性評価
- 製造工程品質のCp/Cpk評価
評価技術サポート
- 検査治具設計・製作
- デバイス評価ボード(DEV)設計・製作
- バーンインボード設計・製作