欠陥ゼロ”を目指すお客様の品質活動をサポートします
品質問題が発生した場合は、初動対応がとても重要です。
流出防止のための選別検査、不具合解析での原因把握、改善対策の導入、そして効果・背反確認が必要となります。
（1）選別検査、（2）不具合解析・故障解析、（3）品質改善支援、（4）品質・信頼性評価の改善サイクルを素早く廻すことが、“欠陥ゼロ（ゼロディフェクト）”活動の基本であり、この4つの機能を一箇所に集約し、お客様の品質活動を強力にサポートします。
選別検査
SCREENING INSPECTION
選別検査(外観、電特、欠陥等々）
品質問題が発生した場合に、ラインの停止、納品遅れ、不具合を出すことはできません。
緊急時の外観、電気特性、欠陥等々の選別検査を行います。
また、初期流動管理、改善対策品の効果確認のための受入検査も行います。
静電気対策、クリーンルームの管理された場所での選別作業ですので、安心してご依頼いただけます。
- ・半導体、電子部品、機構部品基板ユニット等々含む
- ・各種外観選別検査目視、拡大鏡、実体顕微
- ・電気特性選別検査各種測定器、テスター
- ・X線選別検査
- ・テーピング作業（小分け、バラ品）
- ・ディテーピング
- ・各種ROM書込み
- ・X線による検査
- ・バーンイン
- ・受入検査代行
- ・初期流動品品質管理
外観顕微鏡検査
テーピング装置
不具合解析・故障解析支援
FAILURE ANALYSIS SUPPORT
不具合解析・故障解析支援
不具合・故障解析は、初動の速さが重要です。初期解析は、24時間以内対応可能です。
各種解析装置を揃えておりますので、非破壊診断、SEM解析、良品解析も対応可能です。
- ・不具合品の基板からの取り外し
- ・リワーク、リボール、デキャップ
- ・良品解析／不具合解析
- ・各種半導体製品不具合解析（FFV、FFA、FA）
- ・非破壊解析（X-RAY3DCT、SAT-SS､RS）
- ・半導体部品、ユニット電気的特性評価解析
- ・半導体チップ解析
- ・推定原因究明
X線観察画像
SAT(超音波)観察画像
X線、SAT装置
SEM装置
リワーク、リポール装置
ケミカルチャンバー
品質・信頼性評価
QUALITY RELIABILITY EVALUTION
品質・信頼性評価/認定試験支援（電子部品、電気部品、基板、ユニット類）
電子部品、電気部品、基板、ユニット類の品質・信頼性について評価を実施します。
JEDEC、JEITAをはじめ、顧客要求品質等の個別条件の認定試験も対応可能です。
破壊評価、不良品解析評価等についても対応が可能です。
- ・各種条件の環境評価試験
- ・加速動作寿命試験（ボード設計含む）
- ・構造評価解析（X-Ray、SAT）
- ・各種品質検査（Go-No-Go、S/S）
- ・背反確認評価
- ・はんだ付け前処理各種条件対応
- ・マイグレーションフルモニター
- ・ESD/EOS、L/A耐量評価
- ・その他、特殊試験対応
オープンルーム
オープンルーム
リフロー装置
PCT、HAST装置
品質支援・信頼性技術支援
QUALITY & RELIABILITY TECHNICAL SUPPORT
品質・信頼性技術支援
問題が起きてからでは遅い、事前の“品質予防保全”が基本です。
許されない再発、品質資産の“過去トラ”を有効に利用し品質予防保全を支援します。
特性評価、評価技術サポート、品質改善支援等々、豊富な経験と長年培ってきたノウハウをご利用いただくことで手詰りの慢性品質問題の解決にお役立ていただければ幸いです。
特性評価
- ・半導体製品電気的特性評価
- ・ES/CS特性評価（デバイス）
- ・特性Cp/Cpk測定
- ・ユニット特性評価
- ・製造工程品質のCp/Cpk評価
評価技術サポート
- ・検査治具設計・製作
- ・デバイス評価ボード（DEV）設計・製作
- ・バーンインボード設計・製作
品質改善支援
- ・新製品開発導入ノウハウ支援
- ・工場品質アセスメント
- ・TTCM、TPM、5S指導
- ・品質問題改善指導
品質トレーニング・セミナー
- ・半導体品質トレーニング・セミナー
- ・6シグマトレーニング
- ・その他、各種品質相談、お問い合せ